Структуроскоп EG



Керівник проекту Ю. Калиниченко
Керівник проекту Ю. Калиниченко

Структуроскоп EG – пристрій для визначення мікроструктури об’єктів неорганічного/органічного походження інноваційним неруйнівним способом.

 

Варіації мікроструктури (текстури) більшості матеріалів, від конструкційних елементів до напівпровідників, визначають їх споживчі характеристики. Наприклад, найбільш розповсюдженим способом боротьби з варіаціями мікроструктури конструкційних матеріалів є поліпшення його «запасу міцності» шляхом збільшення використання на одиницю виробу. Так, за оцінками експертів, варіація мікроструктури сплавів призводить до збільшення ваги літального апарату в 1,5 рази, що відповідно, впливає на вартість виробу і його подальшої експлуатації протягом життєвого циклу.

 

В порівнянні з відомими технологіями неруйнівного контролю, Структуроскоп EG дозволяє витратити значно менше часу на підготовку контролю, безпосередньо сам контроль, інтерпретацію та протоколювання результатів.

 

Пристрій дозволяє отримувати інтегральну характеристику мікроструктури матеріалу, пов’язану з її неоднорідністю, дозволяє контролювати варіації мікроструктури на етапах як виробництва, так і експлуатації виробів.

 

Структура глобального ринку промислового неруйнівного контролю: 41% США, 29% ЄС, 30% інші країни світу. Ємність світового ринку досягає 10 млрд. дол./рік (Україна – орієнтовно 7 млн. дол./рік). Останні 10 років спостерігається приріст ринку не менше ніж 12% на рік.

 

В даний час виконується патентування технології в США з поширенням національних патентів в ЄС.

1. Електронний блок – фізичний синтез сигналів збудження і аналогове-цифрова обробка сигналів відгуку

2. Комп’ютер – математичний синтез сигналів збудження і обробка сигналів відгуку за спеціальним алгоритмом. В промисловому прототипі всі операції вимірювання і обробки виконуються безпосередньо електронним блоком без використання комп’ютера.

3. Вимірювальний перетворювач – збудження об’єкта контрою спеціальним сигналом, генерація сигналів відгуку

4. Об’єкт контролю – матеріал, структура якого досліджується